連携で日本のものづくり企業の発展を |一般社団法人ジャパンプロダクツユニオン
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光計測 製品一覧

レーザ距離計測

レーザ測距計。レーザーパルスを投光し受光するまでの時間を計測するTOF方式。レーザ光を一定の周波数で強度変調させ照射し、照射した参照光と反射光との位相差から距離を求める位相計測方式。

スキャナデバイス検査

■ポリゴンミラー総合計測システム ポリゴンミラーの性能評価装置。面倒れ、面分割、反射率

MEMSスキャナ検査

■光MEMSスキャナ検査システム 光MEMSデバイス単体の性能評価装置、振り角、共振周波数、ジッタ、ウォブル

配光テスタ一覧

STB-209XL2 キセノンとLEDの両発光を観測 9点式-配光テスタ STB-209X 9点の受光部でストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定 25点式-LED配光テスタ STB-225LD 25点の受光部でLEDストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定

ストロボ光量計一覧

ライン向け光量計 LXP-22T2 LX-25の廉価版 サンプリング式-光量計 LX-60 発光光量など7項目を測定 積分式-光量計 LX-25 発光光量など5項目を測定

シャッターテスタ レンズシャッター一覧

AS-50T レンズシャッター単体の動作時間を測定 AS-251T シャッターの動作時間信号から動作までのタイムラグ有効露出時間絞り値誤差などを測定

シャッターテスタ 反射光型一覧

7FR-85DL 3点又は5点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・X 遅延などを測定 7FR-80D 3点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定 7FR-809D 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定

シャッターテスタ 透過光型一覧

7FDC-500 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 7FDC-3000 上中下、及び左中右のスタート時間差を測定

絞り面積光量比測定器一覧

SMD-81T2 カメラ及び交換レンズの基準絞り口径に対する差[EV]を測定 SMD-251 絞りの時間的変化量を測定

焦点距離誤差測定器一覧

FD-15SF レンズのピント誤差測定 FD-30N レンズの基準焦点位置との差を測定数値化―校正調整に最適 FD-80N レンズの基準焦点位置との差を測定数値化―校正調整に最適 FD-1600N レンズの基準焦点位置との差を測定数値化―校正調整に最適

レンズ系測定器一覧

像面光量落ち測定 KK-2T レンズの比像面照度(像面光量落ち)を測定 SMD-251 絞りの時間的変化量を測定 球面収差測定器 LSA-2 レンズの球面収差を自動測定する ベイリンググレア指数測定 LFM-1 Φ1000mm積分球を用いてレンズフレア率を測定 LDF-3 レンズ偏芯のズレ量、中心焦点位置を自動測定 KO-400 一眼レフ用レンズ絞りレバーの動特性を自動測定

レンズシャッター AS-251T

シャッターの動作時間信号から動作までのタイムラグ有効露出時間絞り値誤差などを測定 被測定物はデジタルカメラ本体シャッター単体 測定範囲はFNo.で11ステップ、F1.4からF45までを1絞り単位で可変 PCにて簡単に設定制御データ取得が可

レンズシャッター AS-50T

レンズシャッター単体の動作時間を測定 測定可能絞り口径Φ1~10mm 測定口径に応じて8段の感度切替機能 測定結果をPCで管理が可能

シャッターテスタ 反射光型 7FR-809D

高性能な反射型シャッターテスター 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定 レーザー光の反射を利用した計測システムなので完成品デジタルカメラでの測定が可能 上中下、及び左中右のスタート時間差を測定 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 オート感度調整 PCにて簡単に設定・制御・データ取得が可能

シャッターテスタ 反射光型 7FR-80D

高性能な反射型シャッター試験機 3点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X遅延などを測定 レーザー光の反射を利用した計測システムなので完成品デジタルカメラでの測定が可能 上中下のスタート時間差を測定 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 PCにて簡単に設定・制御・データ取得が可能

シャッターテスタ 反射光型 7FR-85DL

高性能な反射型シャッターテスター 3点又は5点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・X 遅延などを測定 LED光の反射を利用した計測システムなので完成品デジタルカメラでの測定が可能 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 PCにて簡単に設定・制御・データ取得が可能

シャッターテスタ 透過光型 7FDC-3000

高性能な透過型シャッターテスター 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X 遅延などを測定 上中下、及び左中右のスタート時間差を測定 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 測定結果をPCで管理が可能

シャッターテスタ 透過光型 7FDC-500

高性能な透過型シャッターテスター 9点でフォーカルプレーンシャッターの露出時間・幕速・露出ムラ・X 遅延などを測定 シャタースピード1/8000秒まで正確に測定 測定結果をPCで管理が可能

配光テスタ LED25点式 STB-225LD

25点の受光部でLEDストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定 央部GNを基準として、周囲24点の光量分布を⊿EV又は%で表示 受光部は半円状に配列(5°7.5°) 測定距離は0.5m オプションにてワークを自動回転して球状のデータを取得可能 PCにて簡単に設定表示データ処理

配光テスタ 9点式 STB-209X

9点の受光部でストロボフラッシュの発光光量及び光量分布を測定 受光部はマグネット吸着式で脱着が簡単 発光時間や最大照度も測定 PCにて簡単に設定表示データ処理

配光テスタ STB-209XL2

キセノンとLEDの両発光を観測 9点の発光量の差を測定 発光時間やピークの光量を測定 PCソフトウェアにてデータ管理 CSVファイルで保存可能

ストロボ光量計 積分式-光量計 LX-25

発光光量など5項目を測定 発光をコンデンサに溜め込み測定(積分方式) キセノン、LEDフラッシュ、点滅灯、誘導灯の管理、測定に最適 発光終了までの光量を積算して表示 小容量大容量ストロボはオプションの受光部に切り替えることで測定可能 外部通信に対応しているので遠隔操作が可能

ストロボ光量計 サンプリング式-光量計 LX-60

発光光量など7項目を測定 発光を波で取り込み(サンプリング波形解析方式) キセノンフラッシュ、点滅灯、誘導灯の管理、測定に最適 LX-25の測定項目に加え「最大照度」「発光時間」を測定 可変可能な測定時間(1~90ms) オプションの受光部でLEDストロボにも対応(LX-60LD) 切替作業なしで低輝度から高輝度まで幅広く測定(AUTO MODE)

ストロボ光量計 ライン向け LXP-22T2

LX-25の廉価版 閃光をLux・secで測定表示 PC接続でGNなども測定 発光量を蓄積回路に溜め込み測定表示(積分方式) オプションの受光部に切り替えることで低高照度に対応

輝度計・LVチェッカ

輝度面に押し当てるだけで手軽に簡単に輝度測定 コンパクトなハンディー型であらゆる場面で活躍 データホールド機能で測定したい瞬間を逃さない バックライトで暗い場所での測定も可能 蛍光体などの低輝度発光にも対応 8 [mcd/㎡]から測定 高輝度 73370 [cd/㎡]まで測定 測定結果をPCで管理 任意の基準輝度への補正機能付き

光切断機(Z軸測定機)

光切断方式による非接触Z軸測定機です。膜厚測定、バリ・カエリの測定、シール剤測定表面粗さ検査、金型測定、ガラス間隙測定等々、さまざまな用途に対応できます。

表裏両面観察鏡

特徴 1.同一部分の表裏面の像が光学系の切換によって交互に観察できます。 2.ズームステレオ顕微鏡を装着しますので、立体的な観察と、視野の広い低倍率から正確な観察検査のできる高倍率までスムーズに変えられます。 3.デジタルカメラをマウントして使える仕様もございます。 4.表裏面の像を同時観察し、マークの位置合わせや位置ズレ量の測定を目的とした特注ユニットの製作も可能です。

3眼同軸ズームステレオ 顕微鏡

ハロゲン照明によるファイバー同軸照明とリング状の落射照明を組み合わせた、明視野観察と暗視野観察の切り換えが瞬時にできます。観察物の反射性の強弱による変化に対し、有効な照明の選択が可能です。 1. 3眼鏡筒部にTVカメラやデジタルカメラの装着ができます。 2. 双眼実体顕微鏡であり立体的な観察ができます。

2方向観察角度測定顕微鏡

小径ドリルの先端が規格通りに正しく研磨されているか否かを、ドリルの先端と側面を2方向から拡大して同時に見ることができ、目視検査及び先端の角度測定できる光学測定機です。

2視野顕微鏡

狭い領域の10mmから40mmの範囲で視野の位置が自由に換えられ、しかも、ピントのズレと作動距離が全く変わらないシステムです。頻繁に視野の距離を変える製品の生産時には、視野位置を換えるツマミの僅かな回転だけで済み、作業性が大変向上します。 1.  カラーTV専用ユニットです。 2.  完全防塵タイプで、光学系を外部からの汚れから完全に防げます。 3.  視野の移動にモータードライブが付けられ、生産効率が格段に向上できます。

2重焦点鏡

上下(前後)に離れた2点間のマークに個別のピント合わせができ、あたかも同一面にあるように観察できる光学ユニットです。 2点間が接近しているもの、離れているものでも、ご要望に応じて製作できます。 デジタルマイクロメーター利用によるXY軸測定・ワーク上下両面の観察機能の組み込み等、さまざまな応用が利用できます。

AF・ミクロン深さ高さ測定機

特徴 1.光切断によるスリット像観察とスポット光像によるAF(オートフォーカス)追従を組み合わせた新しいタイプの深さ高さ測定機です。 2.連続追従AF駆動で繰り返し精度の高い測定が操作性良くスピーディーにできます。 3.スリット像が映し出す段差形状を観察しながら測定する方式なので、測定画面上の高低をリアルタイムで認識でき、測定が必要な箇所を容易に判断できます。 4.測定点でスリット像・スポット光像・電子ライン基準線の中心がすべて一致する測定システムで、そのズレのチェックにより誤った数値での測定を防止することができます。 5.光切断の仰角は標準の90°の他30°60°120°と用途に応じて選択導入できます。

オープンスペース型光エンコーダ(ORE-OS-□□□)

本光エンコーダは,当社のエンクローズ型のものの内部を構造体だけを取り出して製品化したもので,スケール板(目盛板)を設備や回転体のシャフトに取り付けることにより,A,B,Z相を取り出すことが出来ます.又,外乱ノイズの影響を無くす為にモジュレーション方式ではなく,純光学的にノイズを除去する方式を用いている為, 100kHZ程度までカウントミスする事は有りません.(標準10kHZ)

光ファイバ式ロータリーエンコーダ(ORE20-□□□)

このエンコーダは,エンコーダ部に全く電気を使用していないので,完全防爆仕様になっております.高電圧・高エネルギー・高磁場等の影響もありませんので,厳しく劣悪な環境にて使用することができます.また,光ファイバは石英ファイバを使用しているため長い距離でのひきまわしも可能です.電気的に信号を送っていないので,ラインドライバ等のデバイスを必要とせず,ノイズが乗ることもなく200m程度まで信号伝送することが出来ます.

光ファイバ式ロータリーエンコーダ(ORE55-□□□)

このエンコーダは,エンコーダ部に全く電気を使用していないので,完全防爆仕様になっております. 高電圧・高エネルギー・高磁場等の影響もありませんので,厳しく劣悪な環境にて使用することができます.また,光ファイバは石英ファイバを使用しているため長い距離でのひきまわしも可能です.

光ファイバ式ロータリーエンコーダ(ORE110-□□□)

本品は,光通信方式のエンコーダです.本体には光通信ケーブルより供給される光信号だけなので,原理的に完全防爆であり,高ノイズ・強磁場・高放射線にも強いものになっています.又,長距離の信号伝送でも途中でノイズを拾うこともありません.

コアピッチ測定機(OSPM-09)

本品は,ファイバアレイ,V溝基板,MTコネクタ用に設計製作された測定機で,高精度CCDカメラにより端面画像を取り込み画像処理することにより,ピッチ分だけ送った微動台の送り量との差を計算してコアピッチを測定する装置です. 当社開発の光干渉型測長ユニットを搭載することにより,最小にて0.01μmを表示して0.08μm精度〔A仕様〕を確保しております.(0.15μm精度〔B仕様もあり〕) この精度を実現するために,ステージ・構造部材およびすべての精度部材をインバーにて構成しております.

耐放射線用レーザマイクロゲージ

強い放射線下で使用される測定器は,それに使用されている材料,電子部品等が 放射線に侵されて長時間の性能維持が困難です.レーザマイクロゲージも同様ですが, 放射線に強い光学部品(レンズ,ミラー等)の開発,電子部品及び校正材料の選択 により,耐放射線用レーザマイクロゲージを開発しました.本機の出現により 高線量下測定での放射線遮蔽容器等の使用はほとんど必要がなくなりました.

大型物測定用レーザマイクロゲージ

レーザマイクロゲージのセンサーユニットを複数個使用してユニット間の継ぎ目を無くするように配列し,継ぎ目が測定に影響しないように信号処理をした画期的な装置です. この装置は走行中の測定物の外径を連続でリアルタイムに測定することができます. 測定範囲はユニットの数によって決まるので制限はありません.

2次元走査レーザマイクロゲージ

標準型のレーザマイクロゲージに回転または揺動式の新開発ミラー系を付加した測定器で, レーザー光走査面に垂直方向に走査面を平行に移動しながら測定します. センサー本体を移動することなく,固定した状態でパイプ等の軸方向の場所による 外径変化を手軽に高精度測定することが可能です.

高温物体測定用(加熱加工中の外径変化測定用)

バーナーで高温加熱中のファイバーガラス等の 外径変化を安定して管理する事ができます. 加工装置側とのデータ受け渡しにも対応します.

従来モデル LMG-PⅢ LMG-MⅢ 毎秒1800回スキャン

少ないボタンでシンプルな操作 測定箇所ごとに公差設定,判定も可能 外部機器による通信制御でさらに機能アップ

外径測定専用モデル LMG-D3 毎秒1800回スキャン

測定ワークの外径検査に低価格な外径測定器を導入したいユーザー様に. (平均値または移動平均値での測定が行えます) 低価格でも公差判定の表示・出力や測定データの出力はD5・D7と同様です. 精度もD5シリーズと同仕様のセンサ部(1800回モデル)を搭載しています.

多機能モデル LMG-D5 毎秒1800回スキャン

10種類のプリセットに上記組み合わせや表示間隔, 演算の設定等を登録して測定物による面倒な切替作業を簡略化する事が出来ます. さらに設定の組み合わせでローラーの外径,振れ測定,公差の判定等も行えます.

XY測定用一体型高速モデル LMG-D7-XY 毎秒3600回スキャン

縦置き・横置き両対応で容易に設置可能.透明・不透明にかかわらず,金属・樹脂製のチューブやパイプから極細のファイバーワイヤまで高精度に測定

高速・高精度モデル LMG-D7 毎秒3600回スキャン

当社従来機(LMG305Ⅱ)と比較して2倍の測定回数(3600回/秒)を高速安定制御回路で実現. 従来の1/2の測定時間で高精度測定が出来ます. 繰り返し精度も大幅に向上しました. 表示部・センサ部・接続ケーブル(4m)の セット価格で68万円~と高精度・低価格を実現.(定価:税別).

特注制作について

東京光電子工業株式会社では,設計から製造まで一貫した自社開発を行なっております. 特殊な状況下での測定や,特殊なサイズの測定など,是非ご相談ください.

光学式露点計

露点の原理に忠実な検出方法に基づいた露点計です.光学的に検出したミラー表面の露量が一定になるようにミラーの温度をマイコンによって精密に制御し,その時のミラー温度を高精度の白金測温素子で計測して表示します.即ち,露点の絶対測定を行うので信頼性が高く,露点測定の基準器としても十分に使用することができます.測定気体の温度測定機能に加えて,信頼性の高い相対湿度計としても使用できる機種もあります.

レーザーアブレーションシステム

製造元:オーケーラボ(有) ◆エキシマレーザーアブレーションシステム ◆UVフェムト秒 レーザーアブレーションシステム

パルスソーラーシュミレータ用分光放射計

■波長:250~1500nm(彩虹) ■波長:350~1300nm(OKL-HSSR1300) ■1msecのパルス光に対応 ■デモ機での測定可 ■全てOK Labのオリジナル設計・製造(特許申請中) ■赤外分光器も販売しております ■その他の波長域にも対応可能 ■定常光測定ももちろんOK

CPM・PDS一体型測定装置

薄膜太陽電池材料の吸収係数測定に最適です. 一定光電流測定法(CPM:Constant photocurrent method)・光熱偏向分光法(PDS:Photothermal Deflection Spectroscopy)を使い,サブバンドギャップ(sub band gap) 光吸収係数(optical absorption coefficient)測定ができます. 欠陥密度(Defect density)の算出ができますので,太陽電池用薄膜の性能向上や開発に応用できます.

高精度測定型複屈折測定装置:ABR-10A/ABR-100

ABR-10Aは,複屈折とその方位を高精度に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になるばかりでなく,様々な応用測定が実現できます.試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ス テージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます

直線複屈折・円複屈折の同時測定型複屈折測定装置:ABR-22

ABR-22は,複屈折とその方位だけでなく,旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になります.試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ステージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます.

セナルモン型自動複屈折測定装置 : SBR-1

SBR-01は,複屈折測定法としてもっともポピュラーなものの一つとしてあげられる,セナルモン法がベースになっています.セナルモン法は,日本光学硝子工業会の硝子の歪(複屈折)測定において標準測定法として採用されています.この光学測定原理はそれに使われる光学素子のアライメント誤差に対して他の測定原理よりも測定誤差を生じにくいことも知られています.

セナルモン型自動複屈折測定装置 : SBR-2

SBR-02は,エリプソメータで用いられている回転偏光子法がベースになっています.光学系は,ほぼSBR-01と同じ構成になっていますが,光源側の偏光子を回転させることで試料の複屈折位相差と主軸方位とを同時に求めることが可能です.

偏光変調回転型自動複屈折測定装置 : SBR-3

SBR-03は,ユニオプトが新しく開発した測定原理に基づいた複屈折測定装置です.試料に入射させる偏光状態を変調しながら回転させることによって,試料の複屈折と主軸方位を同時に求めます.測定ダイナミックレンジが広いこと,測定分解能が高いことが特徴です. (特許第3844222号)

赤外光モデル偏光変調回転型自動複屈折測定装置 : SBR-3-IR

SBR-3-IRは,赤外光源の複屈折装置です.光源の波長を近赤外(λ=1,550 nm)とすることにより,従来測定が困難であったシリコンなどの半導体の複屈折分布を,高精度に測定することが可能となりました.

複屈折観察器:SBV-01

簡易型複屈折観察器:SBV-01は,試料の複屈折の大きさを色の変化に置き換えて簡単に観察できる装置です.複屈折の相対的な比較や,試料内部の複屈折分布の観察に有用です.検査工程での選別作業に大変有効です.CCDカメラで撮像し,それをパソコンに取り込み画像データーベースに登録することが出来ます(オプション).標準試料を予め登録しておくことで,試料の比較選別が簡単に行えます.標準試料に複屈折既知の試料を使うことで,大まかな定量評価も可能です.

レーザ偏芯測定機

携帯カメラレンズなど微小レンズのレーザ偏芯測定機

レーザオートコリメータ

レーザオートコリメータは小さな光学部品の精密な角度測定が可能です.また,ガラス板などでは表面と裏面の2面からの反射光の角度差を計測することで,ガラス板の平行度なども測定できます.本装置では,従来製品と比較して,反射光のビームプロファイルを視覚的に観察できるといった特徴があります.

ITS-7401 光スペクトル線幅測定装置

レーザー光源の光スペクトル線幅を容易に測定可能で,1KHz以下の狭線幅レーザー光源にも対応しています. デジタルコヒーレント通信用光源,ファイバーセンシング用光源,スペクトル分析用光源などの評価に最適です. (本製品は 『平成21年度 中小企業等製品性能評価事業に係る実証研究課題(折り紙付き事業)』 の助成を受け,産業技術総合研究所 土田様のご協力のもと開発をしております)

半導体ウエハの欠陥観察器:SBV-20

半導体結晶は,引き上げ時に結晶の向きがわずかにずれる欠陥が生じます.欠陥観察器はこの欠陥を簡便に検査するものです.ニオブ酸リチウム結晶など,可視光を透過するウェハーの検査に最適です.光弾性実験装置としても使用可能です.

高空間分解能計測アタッチメント

光検出系に光ファイバーを搭載することで,測定における空間分解能を高めることが可能です.図に,LiNbO3ウェハーの欠陥部を測定した例(従来法との比較)を示します.

VectMAP(複屈折分布表示ソフト)

VectMAPは,複屈折や電磁場,流体などのベクトル量の大きさと向きを持つ量の2次元分布情報を同時にマッピングするソフトです.

光弾性定数測定装置

ABR-EXやSBRモデルに試料の加圧装置を組み合わせることで,高精度な光弾性定数測定が可能になります.試料ステージ部に自動延伸装置を搭載し,試料に負荷を加えながらその時点での複屈折量を測定します.延伸装置は,試料セット部に温度制御機構を設けておりますので,材料に適した温度における延伸が行えます.また,この延伸装置を回転・傾斜ステージと組み合わせることで,屈折率楕円体の測定や入射角を変更した場合の複屈折特性評価試験などを行うことが出来ます.

脈理観察器

脈理観察器(UMY-10)は,様々な透明体試料の屈折率の乱れ(=脈理*)を簡単に観察することができる装置です.シュリーレン法を応用した光学系にCCDカメラを組み合わせ,モニターで観測することで,脈理検査に対して特別な訓練を必要とせず,高感度な検査を行うことができます.

大面積走査顕微鏡

大面積走査顕微鏡(EXPloratory microscope for Extensive aRea with Transmitted_light, EXPERT-G2)は,写真乾板やガラス基板などの試料の測定と解析を目的に開発された光学顕微鏡機構です.

植物個体の環境モニタリングシステム

植物工場向けオールインワンモニタリングシステム(TBCF-10)は,東京農工大学・植物工場研究施設より委託されて開発した,植物個体の環境モニタリングシステムです.植物個体ごとの温度・湿度・土壌水分・pH・ECなどをモニタリングする各種環境センサー等を設置し,センサー制御・データ収集を行い,データベースに登録します.植物個体はICタグにて管理され,それぞれの個体について育成歴,病歴などの管理が一括して行えます.取得したデータについての時系列表示を並列表示する事で,栽培に有効なパラメータの相関分布が簡単に行えます.

高倍率表面欠陥検査装置(拡大魔鏡)

YISシリーズの高倍率検査装置で,視野 10mm をモニターに映し出します. 特にエピ処理後に発生するスリップラインの検査で広く使用されています.又,ハードディスク,光学研磨部品の表面検査にも有効です.検出できる感度は,ノマルスキー顕微鏡の倍率50倍に匹敵します.

表面欠陥検査装置(通常タイプ)

古くから伝わる魔鏡の原理を応用して,超高感度にて鏡面平面基板の表面状態が即座に検査できる装置で,世界中のシリコンウエーハメーカーにて使用されています.検査は,非接触・非破壊で行うことができ,光学系はメンテナンスフリーです. オプションにて,表面欠陥の自動判定画像処理・自動搬送機構・イメージ記憶・イメージプリント等の機能を追加することが可能です.

超広視野共焦点型3D-レーザ走査イメージャ:LSM-5000シリーズ

5×50mmの範囲を3D形状計測できます. 弊社独自のマルチスキャンを用いて,もっと大きな範囲も精密計測可能です. 製品はカスタマイズ可能です.

レーザ走査干渉計:LSMi-7000シリーズ

レーザ走査を用いた初めての干渉計です. 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現. 干渉縞で50nmの変化をとらえます.

レーザ走査蛍光イメージャ:LSF-6575P

パルスレーザ励起光源を用いて微小領域の時系列蛍光観察ができます.

超広視野レーザ走査イメージャ: LSM-4100W

*LSM-4100Wは透明フィルムを大面積で1μm以下の観察が可能 *レーザ走査方式なので長い画像も簡単に撮れます *横送り機構をつけると100mm角以上の全面観察も可能(OP) *CCDカメラでは見つけにくい透明フィルム微小欠陥検査に最適 *ガラスの汚れやスクラッチも検出可能です *セラミックス表面の数μmのクラックも検出可能です

超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置: LSM-5500SH/LSM-5100MH

レーザ走査イメージャは顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察,検査装置です.光学顕微鏡では見えにくい透明フィルムやセラミックスなどの画像取得が可能です.レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っています.

超広視野レーザ走査イメージャ: LSM-4000V

ブルーレーザを用いた超広視野を観察できる共焦点レーザ走査顕微鏡

プリズムカップリング式屈折率計

プリズムカップリング式屈折率計 RIP-01は,基準プリズムの底面にサンプルを密着させたときの全反射臨界角を測定することで,屈折率を計測します.光源は標準で2種の半導体レーザーを搭載し,ガラスやアクリル等の硬質なサンプルだけでなく,ジェル状の柔らかいサンプルの測定も可能です.全反射角の測定再現性は0.02 deg.であり,屈折率の角度分解能に換算すると0.0005以下となります.

ソーラシミュレータ付属品

IV計測装置,各種ステージ,基準セル,分光放射器等,付属品を各種取り揃えております.

AM0ソーラシミュレータ

宇宙空間における太陽光 ASTM AM0に対応した疑似太陽光照射装置です.

モジュール評価用パルス型ソーラシミュレータ

太陽電池モジュール生産ラインのモジュールテスターとして最適です.省エネ,長寿命ランプによりランニングコストを低減,メンテナンス性も良く,生産ラインに最適なモジュール評価装置です.(独)産業技術総合研究所殿との共同開発品

高近似型ソーラシミュレータ

光源に2光源(キセノンランプとハロゲンランプ)を使用して,赤外域のスパイクを無くした太陽光に高近似なスペクトルを有する高性能ソーラシミュレータです. (独)産業技術総合研究所殿 納入品

高平行光型ソーラシミュレータ

太陽光に近い高平行度を必要とする集光型モジュールの評価に最適な光源です.照射面積,並行度はご希望に応じて製作します.

室内光シミュレータ YILSシリーズ

有機系太陽電池や各種センサー等,室内用途のデバイスの特性をLED照明下で高精度に評価する為の室内光シミュレータです. JEITA規格 ET-9101※に適合した出力特性評価が可能です.

疑似可変パルス型ソーラシミュレータ

可変できるソーラシミュレータシステムです.太陽電池の照度リニアリティー試験や光応答性試験等,様々な用途に使用出来ます.照度を段階的に可変できる機能と照射時間(光パルス幅)を自由に可変できる機能を備え,PCから外部制御可能なシステムです.

恒温(恒湿)槽一体型ソーラシミュレータ

恒温槽内の測定サンプルの温度を一定に保ち,より精密な研究開発に使用できます.温度特性の研究,ハイソーラの冷却用としても使用可能です.

集光型ソーラシミュレータ

特殊な光学系を用い,高照度で照射するソーラシミュレータです.集光型太陽電池用セルの測定用や暴露試験用に使用できます.並行光で高照度なタイプや,1SUNとの併用型も製作できます.

1光源型ソーラシミュレータ

高圧キセノンランプを光源とし,地上で受ける太陽光(AM1.5G)に近似したスペクトル分布で照射照度1SUNの光を測定サンプルに照射します.研究開発用途だけでなく,太陽電池生産ラインでのセルテスターとしても最適です.