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複屈折測定装置

複屈折測定は,光学材料の内部応力や高分子膜の配向特性の評価に有効です.そのため,複屈折測定は材料研究部門や製造工程での品質管理に広く利用されています.ユニオプトでは,高分解能を有するABRシリーズや,広いダイナミックレンジのSBRシリーズ,分光複屈折装置など,様々な状況に応じた測定装置を提供致します.
製品に関心をもたれましたら是非お問い合せください.

 

外観写真 製品名:型番 製造元
高精度測定型複屈折測定装置:ABR-10A

ABRシリーズは,光ヘテロダイン干渉法による共通光路干渉計とフーリエ解析法を利用することで,高分解能・高精度で,しかも振動,空気揺らぎなどの外乱に影響を受けないという特徴を持っています.オプションの負荷装置を搭載することで光弾性定数測定が可能になります.ABR-10Aは,試料の持つ複屈折量(直線複屈折)とその主軸方位とを,高精度に測定することが可能です.
ユニオプト(株)
  直線複屈折・円複屈折の同時測定型複屈折測定装置:ABR-22

ABRシリーズは,光ヘテロダイン干渉法による共通光路干渉計とフーリエ解析法を利用することで,高分解能・高精度で,しかも振動,空気揺らぎなどの外乱に影響を受けないという特徴を持っています.オプションの負荷装置を搭載することで光弾性定数測定が可能になります.ABR-22は,複屈折とその主軸方位だけでなく,旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です.結晶,液晶,高分子材料等の様々な重要特性を定量的に測定できます.
ユニオプト(株)
  セナルモン型自動複屈折測定装置 : SBR-1

SBRシリーズは,一般的な偏光解析手法を用いた複屈折の自動計測装置です.SBR-01は,複屈折測定法としてもっともポピュラーなものの一つとしてあげられる,セナルモン法がベースになっています.セナルモン法は,日本光学硝子工業会の硝子の歪(複屈折)測定において標準測定法として採用されています.この光学測定原理はそれに使われる光学素子のアライメント誤差に対して他の測定原理よりも測定誤差を生じにくいことも知られています.
ユニオプト(株)
セナルモン型自動複屈折測定装置 : SBR-2

SBRシリーズは,一般的な偏光解析手法を用いた複屈折の自動計測装置です.SBR-02は,エリプソメータで用いられている回転偏光子法がベースになっています.光学系は,ほぼSBR-01と同じ構成になっていますが,光源側の偏光子を回転させることで試料の複屈折位相差と主軸方位とを同時に求めることが可能です.
ユニオプト(株)
偏光変調回転型自動複屈折測定装置 : SBR-3

SBR-03は,ユニオプトが新しく開発した測定原理に基づいた複屈折測定装置です.試料に入射させる偏光状態を変調しながら回転させることによって,試料の複屈折と主軸方位を同時に求めます.測定ダイナミックレンジが広いこと,測定分解能が高いことが特徴です.(特許第3844222号)
ユニオプト(株)
赤外光モデル偏光変調回転型自動複屈折測定装置 : SBR-3-IR

SBR-3-IRは,赤外光源の複屈折装置です.光源の波長を近赤外(λ=1,550 nm)とすることにより,従来測定が困難であったシリコンなどの半導体の複屈折分布を,高精度に測定することが可能となりました.
ユニオプト(株)
複屈折観察器:SBV-01

簡易型複屈折観察器:SBV-01は,試料の複屈折の大きさを色の変化に置き換えて簡単に観察できる装置です.複屈折の相対的な比較や,試料内部の複屈折分布の観察に有用です.検査工程での選別作業に大変有効です.
ユニオプト(株)
半導体ウエハの欠陥観察器:SBV-20

半導体結晶は,引き上げ時に結晶の向きがわずかにずれる欠陥が生じます.欠陥観察器はこの欠陥を簡便に検査するものです.ニオブ酸リチウム結晶など,可視光を透過するウェハーの検査に最適です.光弾性実験装置としても使用可能です.
ユニオプト(株)
高空間分解能計測アタッチメント

光検出系に光ファイバーを搭載することで,測定における空間分解能を高めることが可能です.
ユニオプト(株)
VectMAP(複屈折分布表示ソフト)

VectMAPは,複屈折や電磁場,流体などのベクトル量の大きさと向きを持つ量の2次元分布情報を同時にマッピングするソフトです.
ユニオプト(株)
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