(株)ラステック

 

高い分解能を持つレンズやガルバノスキャナー,高精度な自動ステージ等のさまざまなユニットを搭載した実験装置です.

波長・パルス幅等の異なるレーザー光源を保有しております.
また,測定顕微鏡,金属顕微鏡等の観察機器や,レーザービームプロファイラ,パワーメーター等の光学測定機器もございます.

波長,目的等に合わせて実験装置をその都度最適化して,加工実験を執り行います.

 

加工サンプル

スクライブ

材質:SiC

スクライブ&ブレイク

スクライブ

材質:ダイヤモンド

内部マーキング

材質:シリコン

内部にマーキング
(赤外光で観察)

ナノ周期構造

 材質:ステンレス

薄膜除去

太陽電池 P3層除去

マーキング

材質:ガラス

表面マーキング

除去加工

 材質:ジルコニア

マーキング

材質:SiC

マーキング

材質:SiC

表面マーキング

ダイシング

材質:サファイヤ

マーキング

材質:ステンレス

微細穴あけ

材質:ステンレス
板厚:20μm
穴径:Φ3μm
穴ピッチ:10μm

ディンプル加工

材質:Si
穴径:Φ20μm
穴ピッチ:25μm

微細穴あけ

材質:セラミック
板厚:200μm
穴径:200μm
穴ピッチ:400μm

微細溝加工

 材質:セラミック
板厚:200μm
溝幅:150μm
溝ピッチ:250μm

除去加工

 材質:ポリイミド
板厚:50μm

マーキング

材質:化学強化ガラス
板厚:0.7mm
ガラス内部にマーキング

穴あけ

材質:ホウケイ酸ガラス
板厚:150μm

スクライブ

材質:アルミナセラミック
板厚:200μm
加工深さ:40μm

穴あけ

材質:ホウケイ酸ガラス
板厚:1.1mm

除去加工

材質:セラミック
板厚:200μm

スリット加工

材質:石英ガラス
板厚:1mm
スリット幅:200μm

マーキング

ガラスの表面マーキング

ブラックマーキング

材質:アルミ(アルマイト)

マーキング

 カラークリップの
 マーキング

カラーマーキング

材質:ステンレス(No.1)