製造元:ユニオプト(株)

ABR-100は,複屈折とその方位を高精度に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になるばかりでなく,様々な応用測定が実現できます.試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ス テージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます.

 

 

 

 

 

特徴
◾高感度・高速測定  光ヘテロダイン計測法の採用  0.1 sec. / point
◾高精度・高再現性  試料を静止させた状態で測定 分解能 0.01 nm
◾簡単操作       メニューとマウスによる簡単な操作,明るい場所で作業できます.
◾大型化可能      サンプルの大型化にも対応可能
◾ライン組込可能    サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能

 

アプリケーション
◾液晶ディスプレイ : 位相差フィルム,ラビング膜など
◾強誘電(反強誘電)液晶の配向特性評価
◾光磁気ディスク用基板
◾DVD,CD等のピックアップ光学部品 : 偏光ビームスプリッター等
◾レンズ・プリズム等 光学ガラスの歪測定
◾光学材料の高精度光弾性定数測定
◾高分子材料の研究 (薄膜,レンズ等の光学素子など)

性能

 

測定項目 リターデーション 進相軸方位角 被測定試料
  Re δ φ  
測定範囲* 0 – 260 nm 0 – 150 deg. ± 90 deg.  
分解能 0.01 nm 0.006 deg. 0.1 deg.  
繰り返し精度** ± 0.03 nm ± 0.018 deg. Re = 0 nm
± 0.1 nm ± 0.06 deg. ± 0.5 deg. 1/4波長サンプル
測定時間 約 0.1 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定)
*). オプションにて,0 – 180 deg.まで対応可. 分解能 (150 – 180 deg.):± 0.1 deg.

**). 上欄は,空気層(Re = 0 nm)のサンプルによる測定結果(3σ)であり,下欄が,1/4波長板(Re≒158.3 nm水晶製)のサンプルによる測定結果(3σ)です 

 

  ABR-100 ユニオプト.

ABR-100