製造元:ユニオプト(株)

ABR-22は,複屈折とその方位だけでなく,旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になります.試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ステージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます.

 

特徴
◾高感度・高速測定  光ヘテロダイン計測法の採用  30 sec. / point
◾高精度・高再現性  試料を静止させた状態で測定 分解能 0.4 nm
◾簡単操作      メニューとマウスによる簡単な操作,明るい場所で作業できます.
◾大型化可能       サンプルの大型化にも対応可能
◾ライン組込可能   サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能

 

アプリケーション
◾液晶ディスプレイ : 液晶セル(TN,STN)の複屈折特性
◾液晶位相変調素子の評価
◾ファラデー素子等の電気光学素子の評価 :(ファラデー効果,カー効果,ポッケルス効果等)
◾光学結晶の特性評価・研究
◾高分子材料の評価・研究

 

性能

測定項目 リターデーション 進相軸方位角 旋光角
  Re δ φ ψ
測定範囲 0 – 316 nm 0 – 180 deg. ± 90 deg. ± 90 deg.
分解能 0.4 nm 0.2 deg. 0.2 deg. 0.2 deg.
精度 ± 2 % ± 2 % ± 2 % ± 2 %
測定時間 約 30 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定)